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X光镀层膜厚测试仪在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度膜厚测试仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层.
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